Зонды ближнего Е и Н поля для отладки ЭМИ

Зонды ближнего поля R&S® HZ-15/HZ-17 применяются для локального поиска, диагностики и устранения источников электромагнитных помеховых излучений (ЭМИ) непосредственно на печатных платах и электронных компонентах в процессе разработки устройств. Они работают как «микро-антенны», которые улавливают излучение в непосредственной близости от объекта (в ближней зоне), помогая инженеру понять, какой именно элемент схемы «фонит».

• Локализация источников помех (EMI Debugging): Позволяют с точностью до отдельного проводника, дорожки на плате или ножки микросхемы найти, откуда исходит избыточное излучение.
• Пре-сертификация на ЭМС (Pre-compliance testing): Используются разработчиками перед отправкой прибора в официальную (и дорогую) лабораторию электромагнитной совместимости. Если стандартный тест в безэховой камере показал превышение лимитов на определенной частоте, зондами HZ-15 находят конкретное место на плате, генерирующее эту частоту.
• Оценка эффективности экранирования: Помогают проверить, насколько качественно металлические кожухи, экраны или корпуса задерживают излучение внутри блока.
• Проверка качества фильтрации: Анализ цепей питания и сигнальных линий до и после установки сглаживающих фильтров или ферритовых колец.

К поставке предлагается:

Мощные зонды ближнего поля E и H частотного диапазона от 30 МГц до 3 ГГц с дополнительным предусилителем для цифровых осциллографов. 

Более подробно: EMC near-field probes for oscilloscopes | Rohde & Schwarz